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Werth FlatScope平面零件光學掃描儀

型    號:
所屬分類:Werth復合式三坐標測量機
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Werth FlatScope平面零件光學掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結構,平面光源位于頂部機蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺表面,可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。

Werth FlatScope平面零件光學掃描儀的詳細資料:



Werth FlatScope平面零件光學掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件,如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結構,平面光源位于頂部機蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺表面,可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。

Werth FlatScope平面零件光學掃描儀,在鋁型材行業(yè)有著廣泛的應用,世界鋁型材企業(yè)都在使用。

作為測量儀器,是當今世界上測量二維工件zui精確的二維掃描儀(申請中).


主要特點:
高速的矩陣式掃描系統(tǒng),適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的二維測量
工業(yè)圖像處理系統(tǒng),掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
被測工件可任意位置放置
模塊化的測量軟件
利用投射光和透射光進行工件掃描
快捷方便的WinWerth評估軟件
WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測量
平面光源
精度采用高標準雙邊標定

 

技術參數(shù):
測量范圍(玻璃工作臺 尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度:Z = 100mm
光柵尺分辨率:0.1µm

測量機zui大允許誤差:

變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度 Δ=1度/h
依據(jù)標準 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617


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